Nová studie Flash Reliability in Production: The Expected and the Unexpected (autoři: Bianca Schroeder z University of Toronto a Raghav Lagisetty s Arif Merchant z Googlu) zabývající se životností SSD disků v datových centrech přichází s novými závěry ohledně použitých čipů.

Studie sledovala deset různých typů SSD disků vyráběných v posledních šesti letech a v zásadě tvrdí, že SSD disky trpí více na délku provozu než na technologii použitých čipů či počtu přepisů datových buněk. Všechny testované disky byly podrobeny miliónům dnů v provozu, ať už v kategorii enterprise či běžné spotřební. Testované SSD měly čipy typu SLC, MLC nebo eMLC. S přihlédnutím ke všem parametrům je ve výsledku výpovědní hodnota slušná.

Mezi důležité aspekty zkoumaných problematik patří potvrzení, že hodnota UBER (Uncorrectable Bit Error Rate) je nepodstatná a nevypovídá o reálné výdrži při běhu SSD. Dále pak, že hodnota RBER (Raw Bit Error Rate) roste pomaleji, než se dříve očekávalo z parametru Wearout Level. Zároveň RBER není ve vztahu s UBER ani jinými typy indikace selhání.

Dále platí, že SLC SSD vydrží více než MLC, i když rozdíly se snižují. Důležitým poznatkem je, že i u nových SSD je určité množství vadných bloků v NAND flash čipech běžné. Čím více je vadných bloků z výroby, tím roste pravděpodobnost rychlejšího nelineárního selhání dalších bloků. Přibližně 30 až 80 % SSD má alespoň 1 vadný blok. U zhruba 2 až 7 % SSD selže alespoň 1 NAND flash čip během čtyř let od nasazení.

Za zmínku stojí i zjištění, že SSD nemají ani tak velký problém s fatálními druhy selhání jako například HDD. Naopak jsou náchylnější vůči ztrátě dat, je tedy vhodné u SSD využívat jistou redundanci, podobně jako opravné kódy k CRC součtům při vytváření RAR archivů.

Nutno zmínit, že se výše zmíněné týká generací SSD disků na výrobních procesech 50nm, 43nm, 34nm, 32nm a 25nm. Novější 20nm/19nm nebo 16nm/15nm technologie čipů již nemusí tolik korespondovat.